無損檢(jian)測(ce)技術，又稱(cheng)非破壞檢(jian)查技術，是第二(er)次世界(jie)大戰后(hou)迅速發展起來的(de)一(yi)門新興(xing)的(de)工程科學。它是利用物(wu)(wu)質(zhi)(zhi)(zhi)中因(yin)有缺陷或組織(zhi)結構(gou)上的(de)差異存在而(er)會使其某些(xie)物(wu)(wu)理(li)性質(zhi)(zhi)(zhi)的(de)物(wu)(wu)理(li)量發生(sheng)變化(hua)的(de)現象，以不使被檢(jian)查物(wu)(wu)使用性能及形態受到損傷(shang)為前(qian)提，通過一(yi)定(ding)的(de)檢(jian)測(ce)手段(duan)來檢(jian)測(ce)或測(ce)量、顯示和評估這些(xie)變化(hua)，從而(er)了解和評價材料、產(chan)品、設備(bei)構(gou)件直至生(sheng)物(wu)(wu)等的(de)性質(zhi)(zhi)(zhi)、狀態或內部結構(gou)等等。它最突(tu)出的(de)特點(dian)是“無損傷”，因此(ci)在工業生產(chan)、物(wu)理研究、生物(wu)工程(cheng)以及醫療(liao)診斷等廣大領域(yu)獲得(de)極(ji)大的(de)重視(shi)和迅速發展。在工業領域(yu)，目前最常用(yong)的(de)有超聲波檢(jian)測(ce)、磁粉檢(jian)測(ce)、滲(shen)透檢(jian)測(ce)、射(she)線(xian)檢(jian)測(ce)。

1.   超聲(sheng)波檢測技術(shu)

通(tong)過超聲(sheng)波與試件相互作(zuo)用，就反射、透射和散(san)射的波進(jin)行研究，對試件進(jin)行宏觀缺陷監(jian)測、幾(ji)何特性(xing)測量、組織結構和力(li)學性(xing)能變(bian)化的檢測和表(biao)征，并進(jin)而對其(qi)特定應用性(xing)進(jin)行評價(jia)的技術(shu)成為(wei)超聲(sheng)波檢測技術(shu)，其原(yuan)理(li)為聲源產(chan)生超(chao)聲波(bo)，采用一定的(de)(de)方(fang)(fang)式使超(chao)聲波(bo)進入(ru)試(shi)件(jian)(jian)，超(chao)聲波(bo)在(zai)試(shi)件(jian)(jian)中傳(chuan)播(bo)并與試(shi)件(jian)(jian)材料以及(ji)其中的(de)(de)缺陷(xian)相互作用，使其傳(chuan)播(bo)方(fang)(fang)向或(huo)特(te)征(zheng)被改變，改變后的(de)(de)超(chao)聲波(bo)通過檢測設備被接收，并可對其進行處理(li)和分析(xi)，根據接收的(de)(de)超(chao)聲波(bo)的(de)(de)特(te)征(zheng)，評估試(shi)件(jian)(jian)本身及(ji)其內部(bu)是否存在(zai)缺陷(xian)及(ji)缺陷(xian)的(de)(de)特(te)性。

2.   磁粉檢測技術

鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)性材(cai)(cai)料(liao)(liao)在(zai)(zai)磁(ci)(ci)(ci)(ci)場中被磁(ci)(ci)(ci)(ci)化時，材(cai)(cai)料(liao)(liao)表(biao)面或近(jin)表(biao)面存(cun)在(zai)(zai)的(de)(de)缺陷(xian)或組織狀態變(bian)(bian)化會(hui)使(shi)導磁(ci)(ci)(ci)(ci)率發生變(bian)(bian)化，即磁(ci)(ci)(ci)(ci)阻增大(da)，使(shi)得磁(ci)(ci)(ci)(ci)路中的(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)(ci)通(tong)(tong)相應(ying)發生畸變(bian)(bian)，除了一部分(fen)磁(ci)(ci)(ci)(ci)通(tong)(tong)直接穿(chuan)越缺陷(xian)或在(zai)(zai)材(cai)(cai)料(liao)(liao)內(nei)部繞過(guo)缺陷(xian)外，還有一部分(fen)磁(ci)(ci)(ci)(ci)通(tong)(tong)會(hui)離開材(cai)(cai)料(liao)(liao)表(biao)面，通(tong)(tong)過(guo)空氣繞過(guo)缺陷(xian)再重新進入(ru)材(cai)(cai)料(liao)(liao)，從而在(zai)(zai)材(cai)(cai)料(liao)(liao)表(biao)面的(de)(de)缺陷(xian)處(chu)形成漏(lou)(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)場。當采用微細的(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)(ci)性介質（磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)）鋪撒在(zai)(zai)材(cai)(cai)料(liao)(liao)表(biao)面時，這(zhe)些磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)會(hui)被漏(lou)(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)場吸附聚(ju)集從而顯示(shi)出缺陷(xian)所在(zai)(zai)，這(zhe)種方法就(jiu)是“磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探傷”技術。如(ru)(ru)果不(bu)是使(shi)用磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)，而是直接使(shi)用特殊(shu)的(de)(de)測磁(ci)(ci)(ci)(ci)裝置（例(li)如(ru)(ru)磁(ci)(ci)(ci)(ci)帶、檢(jian)(jian)測線圈、磁(ci)(ci)(ci)(ci)敏元件(jian)等(deng)）探查并記錄漏(lou)(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)通(tong)(tong)的(de)(de)存(cun)在(zai)(zai)來(lai)達到檢(jian)(jian)測目的(de)(de)，則(ze)稱為“漏(lou)(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)檢(jian)(jian)測”技術。目前(qian)主(zhu)要應(ying)用于(yu)工業上檢(jian)(jian)查鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)性材(cai)(cai)料(liao)(liao)及零部件(jian)上的(de)(de)表(biao)面和近(jin)表(biao)面缺陷(xian)。

3.   滲透檢測技術

通過噴灑、刷涂或浸漬等方(fang)法，把滲(shen)透(tou)(tou)能力(li)很強的(de)滲(shen)透(tou)(tou)液(ye)施(shi)加(jia)(jia)到被檢查的(de)物(wu)體上，當(dang)物(wu)體表面(mian)存在(zai)開口性缺(que)陷時，滲(shen)透(tou)(tou)液(ye)因毛(mao)細管作用原理(li)而深入到缺(que)陷中去(qu)，將(jiang)物(wu)體表面(mian)多余(yu)的(de)滲(shen)透(tou)(tou)液(ye)擦拭(shi)或沖洗干(gan)凈后(hou)，再在(zai)物(wu)體表面(mian)均勻施(shi)加(jia)(jia)顯(xian)(xian)像(xiang)劑，顯(xian)(xian)像(xiang)劑能將(jiang)已滲(shen)入缺(que)陷內的(de)滲(shen)透(tou)(tou)液(ye)引導到物(wu)體表面(mian)上來，由于顯(xian)(xian)像(xiang)劑本身提供了與滲(shen)透(tou)(tou)液(ye)形成強烈對比(bi)的(de)背(bei)景襯托，因此反滲(shen)出的(de)滲(shen)透(tou)(tou)液(ye)將(jiang)顯(xian)(xian)示(shi)出缺(que)陷的(de)狀況圖像(xiang)，它可以是以顏色(se)對比(bi)而在(zai)白光下用肉(rou)眼(yan)觀察(cha)（稱作“著色滲(shen)透探傷”），也可(ke)以是因具有熒光(guang)作用而(er)在紫外光(guang)下觀察(cha)（稱作“熒光滲(shen)透探傷(shang)”）。主要(yao)應用于檢查(cha)材(cai)料及工件(jian)表面(mian)開口性(xing)缺陷(xian)，其靈敏(min)度已經(jing)達到可以檢查(cha)出開口寬度僅有微米級的缺陷(xian)。

4.   射(she)線檢測(ce)技術

利用X射線、γ射線(xian)、β射線以及如(ru)中子射線、GAO能(neng)(neng)射線(xian)等(deng)放射線(xian)穿(chuan)透(tou)物(wu)質(zhi)(zhi)時，由于(yu)存在(zai)吸(xi)收與(yu)散(san)射、電子偶生成(cheng)等(deng)特性與(yu)物(wu)質(zhi)(zhi)的(de)密度結構(gou)(gou)相(xiang)關，或者(zhe)產生電離等(deng)現象，從而能(neng)(neng)夠顯示(shi)物(wu)質(zhi)(zhi)內部的(de)缺(que)陷或組織結構(gou)(gou)。常見的(de)有采(cai)用(yong)照相(xiang)或屏(ping)幕顯示(shi)、電視顯示(shi)等(deng)方法將物(wu)質(zhi)(zhi)內部情況顯示(shi)為(wei)可(ke)見圖像以(yi)進行(xing)分析判斷。例如工(gong)業(ye)上(shang)用(yong)于(yu)檢查鑄件、焊縫(feng)等(deng)的(de)“射(she)線照(zhao)相檢(jian)測”或“工業X光電視”、醫學界用(yong)于檢(jian)查人體(ti)的“X光透視或(huo)照相”及“CT”等。