無損檢測(ce)技術，又(you)稱非破壞檢查技術，是(shi)(shi)第二(er)次(ci)世界大戰(zhan)后迅(xun)速發展起(qi)來的(de)一(yi)門新興的(de)工程科學(xue)。它是(shi)(shi)利用(yong)物(wu)質(zhi)(zhi)中因有缺陷或組織結(jie)(jie)構上的(de)差異存(cun)在而會(hui)使(shi)其(qi)某些(xie)物(wu)理(li)性質(zhi)(zhi)的(de)物(wu)理(li)量發生(sheng)變化的(de)現象，以不(bu)使(shi)被檢查物(wu)使(shi)用(yong)性能及(ji)形態受到損傷為前提，通(tong)過(guo)一(yi)定的(de)檢測(ce)手段來檢測(ce)或測(ce)量、顯示和(he)評(ping)估這些(xie)變化，從而了解和(he)評(ping)價材料、產品、設備構件直至生(sheng)物(wu)等(deng)(deng)的(de)性質(zhi)(zhi)、狀態或內部結(jie)(jie)構等(deng)(deng)等(deng)(deng)。它最突(tu)出(chu)的(de)特(te)點是(shi)(shi)“無損傷(shang)”，因此在(zai)工(gong)業生(sheng)產(chan)、物(wu)理研(yan)究、生(sheng)物(wu)工(gong)程以及(ji)醫療診(zhen)斷等廣大領域獲得極大的重視和迅速發展。在(zai)工(gong)業領域，目前最常用的有(you)超聲波檢測、磁粉檢測、滲透檢測、射(she)線檢測。

1.   超聲(sheng)波檢測技術

通過(guo)超聲波(bo)(bo)與試件(jian)相互(hu)作(zuo)用，就反射、透(tou)射和散射的波(bo)(bo)進(jin)行(xing)研究，對試件(jian)進(jin)行(xing)宏觀缺(que)陷監測(ce)、幾(ji)何特性測(ce)量、組織結構和力(li)學性能變(bian)化(hua)的檢測(ce)和表征，并進(jin)而對其(qi)特定(ding)應(ying)用性進(jin)行(xing)評價的技(ji)術成為超聲波(bo)(bo)檢測(ce)技(ji)術，其(qi)原理為(wei)聲(sheng)源產(chan)生超聲(sheng)波，采用(yong)一定的方(fang)式使超聲(sheng)波進入(ru)試件(jian)，超聲(sheng)波在試件(jian)中(zhong)傳播并與試件(jian)材料(liao)以及其(qi)中(zhong)的缺(que)陷(xian)相互作用(yong)，使其(qi)傳播方(fang)向或特征(zheng)被改變，改變后(hou)的超聲(sheng)波通過檢測設備(bei)被接(jie)收，并可對其(qi)進行處理和分析，根據接(jie)收的超聲(sheng)波的特征(zheng)，評估試件(jian)本身及其(qi)內部是否存在缺(que)陷(xian)及缺(que)陷(xian)的特性。

2.   磁粉檢測技術

鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)性(xing)材(cai)料(liao)在磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)場中被磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)化(hua)時，材(cai)料(liao)表(biao)(biao)面(mian)或(huo)近表(biao)(biao)面(mian)存在的(de)缺(que)(que)陷(xian)(xian)或(huo)組織(zhi)狀態(tai)變(bian)化(hua)會使導磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)率發(fa)生變(bian)化(hua)，即磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)阻增大(da)，使得磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)路中的(de)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)通(tong)(tong)相應(ying)發(fa)生畸變(bian)，除了(le)一(yi)部分磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)通(tong)(tong)直接穿(chuan)越(yue)缺(que)(que)陷(xian)(xian)或(huo)在材(cai)料(liao)內部繞過缺(que)(que)陷(xian)(xian)外(wai)，還有一(yi)部分磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)通(tong)(tong)會離開材(cai)料(liao)表(biao)(biao)面(mian)，通(tong)(tong)過空氣繞過缺(que)(que)陷(xian)(xian)再重新(xin)進(jin)入材(cai)料(liao)，從而在材(cai)料(liao)表(biao)(biao)面(mian)的(de)缺(que)(que)陷(xian)(xian)處形成漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)場。當采用微(wei)細的(de)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)性(xing)介質（磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)）鋪撒在材(cai)料(liao)表(biao)(biao)面(mian)時，這些磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)會被漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)場吸附聚集從而顯示出缺(que)(que)陷(xian)(xian)所在，這種方法(fa)就是“磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探傷”技術(shu)。如果不是使用磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)，而是直接使用特殊的(de)測(ce)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)裝(zhuang)置（例如磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)帶、檢(jian)測(ce)線圈、磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)敏(min)元件等）探查(cha)并記錄漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)通(tong)(tong)的(de)存在來(lai)達到檢(jian)測(ce)目(mu)(mu)的(de)，則稱(cheng)為“漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)檢(jian)測(ce)”技術(shu)。目(mu)(mu)前主(zhu)要應(ying)用于工業上檢(jian)查(cha)鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)性(xing)材(cai)料(liao)及零部件上的(de)表(biao)(biao)面(mian)和(he)近表(biao)(biao)面(mian)缺(que)(que)陷(xian)(xian)。

3.   滲(shen)透檢測技術

通過噴灑、刷涂或浸(jin)漬等(deng)方法，把滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)能力很強的(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)液(ye)施加(jia)到被(bei)檢查(cha)的(de)(de)(de)物體(ti)上(shang)(shang)，當物體(ti)表(biao)(biao)面(mian)存在(zai)開口性缺(que)陷(xian)時，滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)液(ye)因毛細管作用原理而深入(ru)到缺(que)陷(xian)中去，將物體(ti)表(biao)(biao)面(mian)多余(yu)的(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)液(ye)擦拭(shi)或沖洗干凈后，再在(zai)物體(ti)表(biao)(biao)面(mian)均勻施加(jia)顯(xian)像劑(ji)，顯(xian)像劑(ji)能將已滲(shen)(shen)(shen)入(ru)缺(que)陷(xian)內的(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)液(ye)引導到物體(ti)表(biao)(biao)面(mian)上(shang)(shang)來，由于顯(xian)像劑(ji)本身(shen)提供了與滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)液(ye)形成強烈對比(bi)的(de)(de)(de)背景襯托(tuo)，因此反滲(shen)(shen)(shen)出的(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)液(ye)將顯(xian)示出缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)狀(zhuang)況圖(tu)像，它可以(yi)是以(yi)顏色對比(bi)而在(zai)白光下用肉眼觀察（稱作“著色滲透探傷”），也(ye)可以(yi)是因具(ju)有熒光作用而在紫外光下觀察(cha)（稱作“熒光滲透探傷”）。主(zhu)要應用于檢(jian)查材料及工件表面開(kai)口性缺陷，其靈敏度已經(jing)達(da)到可以檢(jian)查出(chu)開(kai)口寬度僅有微米級的缺陷。

4.   射線(xian)檢測技術(shu)

利用X射線(xian)、γ射(she)線、β射線(xian)(xian)以及如中子射線(xian)(xian)、GAO能(neng)射(she)線(xian)等(deng)放(fang)射(she)線(xian)穿(chuan)透物(wu)質(zhi)(zhi)時，由(you)于(yu)存在吸收與(yu)散(san)射(she)、電子(zi)偶生成等(deng)特性與(yu)物(wu)質(zhi)(zhi)的(de)密度結構(gou)相關，或(huo)者產生電離等(deng)現象(xiang)，從而能(neng)夠顯(xian)(xian)示物(wu)質(zhi)(zhi)內(nei)部的(de)缺陷或(huo)組(zu)織結構(gou)。常(chang)見的(de)有采用照相或(huo)屏幕顯(xian)(xian)示、電視顯(xian)(xian)示等(deng)方法將(jiang)物(wu)質(zhi)(zhi)內(nei)部情況顯(xian)(xian)示為可見圖像以進行分(fen)析判斷(duan)。例(li)如工業(ye)上用于(yu)檢(jian)查鑄件(jian)、焊縫等(deng)的(de)“射(she)線(xian)照相檢測”或“工業X光(guang)電(dian)視”、醫學界用(yong)于檢(jian)查人體的“X光透(tou)視或照相”及“CT”等(deng)。