無損(sun)檢(jian)(jian)測(ce)技術(shu)，又稱非破壞檢(jian)(jian)查技術(shu)，是(shi)第二次世(shi)界大戰后迅速發(fa)展(zhan)起(qi)來(lai)的(de)一門新興的(de)工(gong)程(cheng)科學。它是(shi)利用(yong)(yong)物質中(zhong)因有缺陷(xian)或組織結構上的(de)差異存(cun)在(zai)而(er)會使(shi)其某些物理性(xing)質的(de)物理量發(fa)生變化的(de)現(xian)象，以不使(shi)被檢(jian)(jian)查物使(shi)用(yong)(yong)性(xing)能及形態受到損(sun)傷(shang)為(wei)前(qian)提(ti)，通過(guo)一定的(de)檢(jian)(jian)測(ce)手段來(lai)檢(jian)(jian)測(ce)或測(ce)量、顯示和(he)評(ping)估這些變化，從而(er)了解(jie)和(he)評(ping)價材(cai)料、產(chan)品、設備構件直至生物等的(de)性(xing)質、狀態或內部結構等等。它最突出的(de)特點是(shi)“無(wu)損傷”，因此在工(gong)業(ye)生(sheng)產、物理研(yan)究、生(sheng)物工(gong)程(cheng)以及醫療診斷等廣大(da)領(ling)(ling)域獲得(de)極(ji)大(da)的重(zhong)視和迅速發展(zhan)。在工(gong)業(ye)領(ling)(ling)域，目前(qian)最常(chang)用(yong)的有超(chao)聲波檢(jian)測(ce)、磁粉檢(jian)測(ce)、滲(shen)透檢(jian)測(ce)、射線檢(jian)測(ce)。

1.   超聲波檢測技術

通過超(chao)聲(sheng)波(bo)與試(shi)件相互作用(yong)(yong)，就反射(she)(she)(she)、透射(she)(she)(she)和(he)散射(she)(she)(she)的(de)波(bo)進(jin)行研究，對試(shi)件進(jin)行宏觀缺陷監(jian)測(ce)、幾何(he)特(te)性(xing)測(ce)量、組(zu)織結構和(he)力學性(xing)能(neng)變(bian)化的(de)檢(jian)測(ce)和(he)表征，并進(jin)而(er)對其(qi)特(te)定(ding)應用(yong)(yong)性(xing)進(jin)行評價的(de)技術(shu)成為超(chao)聲(sheng)波(bo)檢(jian)測(ce)技術(shu)，其(qi)原理為(wei)聲(sheng)(sheng)源產生超聲(sheng)(sheng)波(bo)，采用一定的(de)方式(shi)使超聲(sheng)(sheng)波(bo)進入試件(jian)，超聲(sheng)(sheng)波(bo)在試件(jian)中傳播(bo)(bo)并(bing)與試件(jian)材(cai)料以及(ji)其(qi)中的(de)缺(que)陷相(xiang)互作用，使其(qi)傳播(bo)(bo)方向或特(te)征被改(gai)變，改(gai)變后的(de)超聲(sheng)(sheng)波(bo)通過檢測設備被接(jie)收，并(bing)可對其(qi)進行處理和分(fen)析，根據接(jie)收的(de)超聲(sheng)(sheng)波(bo)的(de)特(te)征，評(ping)估試件(jian)本身及(ji)其(qi)內部(bu)是(shi)否存在缺(que)陷及(ji)缺(que)陷的(de)特(te)性。

2.   磁粉檢測技術

鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)性材(cai)料(liao)(liao)在(zai)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)場中(zhong)被磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)化(hua)(hua)時，材(cai)料(liao)(liao)表(biao)(biao)面(mian)或近(jin)表(biao)(biao)面(mian)存(cun)在(zai)的(de)(de)(de)缺(que)陷(xian)或組(zu)織(zhi)狀(zhuang)態變化(hua)(hua)會使導磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)率發生(sheng)變化(hua)(hua)，即(ji)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)阻增大(da)，使得磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)路(lu)中(zhong)的(de)(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)通相應(ying)發生(sheng)畸變，除了一(yi)部(bu)(bu)分(fen)(fen)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)通直接(jie)穿越缺(que)陷(xian)或在(zai)材(cai)料(liao)(liao)內(nei)部(bu)(bu)繞(rao)過缺(que)陷(xian)外，還(huan)有一(yi)部(bu)(bu)分(fen)(fen)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)通會離開材(cai)料(liao)(liao)表(biao)(biao)面(mian)，通過空氣(qi)繞(rao)過缺(que)陷(xian)再重新進(jin)入材(cai)料(liao)(liao)，從而在(zai)材(cai)料(liao)(liao)表(biao)(biao)面(mian)的(de)(de)(de)缺(que)陷(xian)處形成漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)場。當采用(yong)微細的(de)(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)性介質(zhi)（磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉）鋪撒在(zai)材(cai)料(liao)(liao)表(biao)(biao)面(mian)時，這些磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉會被漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)場吸附聚集從而顯(xian)示出缺(que)陷(xian)所在(zai)，這種方法(fa)就是(shi)“磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉探傷”技術。如果不是(shi)使用(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉，而是(shi)直接(jie)使用(yong)特殊(shu)的(de)(de)(de)測磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)裝置（例如磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)帶、檢(jian)測線圈(quan)、磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)敏元件(jian)等）探查(cha)并記錄漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)通的(de)(de)(de)存(cun)在(zai)來達(da)到檢(jian)測目的(de)(de)(de)，則(ze)稱為“漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)檢(jian)測”技術。目前主要應(ying)用(yong)于工業上檢(jian)查(cha)鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)性材(cai)料(liao)(liao)及零部(bu)(bu)件(jian)上的(de)(de)(de)表(biao)(biao)面(mian)和近(jin)表(biao)(biao)面(mian)缺(que)陷(xian)。

3.   滲透檢測技術(shu)

通過噴灑(sa)、刷涂或(huo)(huo)浸(jin)漬等方法，把滲(shen)透(tou)能力(li)很強(qiang)的(de)(de)滲(shen)透(tou)液(ye)施加(jia)到(dao)被檢(jian)查的(de)(de)物體(ti)上，當物體(ti)表面存在開口(kou)性缺(que)陷時，滲(shen)透(tou)液(ye)因毛(mao)細管作用原理(li)而深入到(dao)缺(que)陷中去，將物體(ti)表面多余的(de)(de)滲(shen)透(tou)液(ye)擦拭或(huo)(huo)沖洗干凈后，再在物體(ti)表面均勻施加(jia)顯(xian)像(xiang)劑，顯(xian)像(xiang)劑能將已(yi)滲(shen)入缺(que)陷內的(de)(de)滲(shen)透(tou)液(ye)引導到(dao)物體(ti)表面上來，由于顯(xian)像(xiang)劑本身提供了與滲(shen)透(tou)液(ye)形(xing)成強(qiang)烈對比(bi)的(de)(de)背景(jing)襯托(tuo)，因此反(fan)滲(shen)出的(de)(de)滲(shen)透(tou)液(ye)將顯(xian)示(shi)出缺(que)陷的(de)(de)狀況圖像(xiang)，它可以是以顏色對比(bi)而在白光下用肉眼觀察(cha)（稱作“著色滲透探傷”），也可以是因具有熒(ying)光作用而(er)在紫(zi)外光下觀察（稱作“熒光(guang)滲透探傷”）。主要應(ying)用(yong)于(yu)檢查材料及工件表(biao)面(mian)開(kai)口性缺(que)陷，其靈敏度(du)已經(jing)達到可以檢查出開(kai)口寬度(du)僅(jin)有微米(mi)級的缺(que)陷。

4.   射線檢測技術

利用(yong)X射(she)線、γ射線、β射線以及如中子射線、GAO能射線等(deng)放射線穿透(tou)物(wu)(wu)質(zhi)(zhi)時，由于存在吸收與散射、電(dian)(dian)子偶生成等(deng)特(te)性與物(wu)(wu)質(zhi)(zhi)的(de)(de)密(mi)度結構相(xiang)關，或者產生電(dian)(dian)離(li)等(deng)現象，從而能夠顯示(shi)物(wu)(wu)質(zhi)(zhi)內(nei)部的(de)(de)缺陷(xian)或組織結構。常見(jian)(jian)的(de)(de)有采用照相(xiang)或屏幕顯示(shi)、電(dian)(dian)視顯示(shi)等(deng)方法將物(wu)(wu)質(zhi)(zhi)內(nei)部情況顯示(shi)為可見(jian)(jian)圖像(xiang)以進行分(fen)析判(pan)斷。例如工業上用于檢查鑄件、焊縫等(deng)的(de)(de)“射線(xian)照相檢(jian)測”或“工(gong)業X光(guang)電視”、醫學(xue)界(jie)用于檢查人體的(de)“X光透視或照相”及“CT”等。