無(wu)損檢(jian)測(ce)技術，又稱非(fei)破壞(huai)檢(jian)查技術，是第二次世界大(da)戰后迅速發(fa)展起來(lai)(lai)的(de)一門新興的(de)工程科(ke)學。它(ta)是利用物質(zhi)中因(yin)有(you)缺陷或(huo)(huo)組(zu)織(zhi)結(jie)構(gou)上的(de)差異(yi)存在而會使其(qi)某些物理(li)性(xing)(xing)(xing)質(zhi)的(de)物理(li)量發(fa)生變化的(de)現(xian)象，以(yi)不(bu)使被(bei)檢(jian)查物使用性(xing)(xing)(xing)能及形態受到損傷為前(qian)提，通過一定(ding)的(de)檢(jian)測(ce)手段來(lai)(lai)檢(jian)測(ce)或(huo)(huo)測(ce)量、顯(xian)示和(he)(he)評估這些變化，從而了(le)解(jie)和(he)(he)評價材料、產品、設備構(gou)件直至生物等(deng)的(de)性(xing)(xing)(xing)質(zhi)、狀態或(huo)(huo)內部(bu)結(jie)構(gou)等(deng)等(deng)。它(ta)最突出的(de)特點是“無損傷(shang)”，因此在工(gong)業生產(chan)、物理(li)研究、生物工(gong)程(cheng)以(yi)及(ji)醫(yi)療診斷等(deng)廣(guang)大領(ling)域獲得(de)極(ji)大的重(zhong)視和迅速發展。在工(gong)業領(ling)域，目前最常用(yong)的有超聲波檢(jian)測、磁粉檢(jian)測、滲透檢(jian)測、射線(xian)檢(jian)測。

1.   超聲波檢測技術

通過(guo)超聲波(bo)與試(shi)件相互作用，就反射(she)、透射(she)和(he)(he)散射(she)的(de)波(bo)進(jin)行(xing)研究，對試(shi)件進(jin)行(xing)宏觀缺陷監(jian)測、幾何(he)特性(xing)測量、組(zu)織(zhi)結構和(he)(he)力(li)學(xue)性(xing)能變化的(de)檢(jian)測和(he)(he)表征，并(bing)進(jin)而(er)對其特定應(ying)用性(xing)進(jin)行(xing)評價的(de)技術(shu)成為超聲波(bo)檢(jian)測技術(shu)，其(qi)(qi)原(yuan)理為(wei)聲源(yuan)產生超聲波(bo)，采用一定的(de)(de)(de)(de)方式(shi)使(shi)超聲波(bo)進(jin)(jin)入(ru)試件，超聲波(bo)在(zai)試件中傳播(bo)并與試件材(cai)料以(yi)及(ji)(ji)其(qi)(qi)中的(de)(de)(de)(de)缺(que)(que)陷相互作用，使(shi)其(qi)(qi)傳播(bo)方向或特征(zheng)被(bei)改(gai)變，改(gai)變后的(de)(de)(de)(de)超聲波(bo)通過(guo)檢(jian)測(ce)設備被(bei)接收(shou)，并可對其(qi)(qi)進(jin)(jin)行(xing)處理和(he)分析，根(gen)據接收(shou)的(de)(de)(de)(de)超聲波(bo)的(de)(de)(de)(de)特征(zheng)，評(ping)估試件本身(shen)及(ji)(ji)其(qi)(qi)內部(bu)是否(fou)存在(zai)缺(que)(que)陷及(ji)(ji)缺(que)(que)陷的(de)(de)(de)(de)特性。

2.   磁粉檢測技術

鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)性(xing)材(cai)料(liao)(liao)在(zai)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)場(chang)中(zhong)被磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)化時，材(cai)料(liao)(liao)表(biao)(biao)面(mian)(mian)或近表(biao)(biao)面(mian)(mian)存(cun)(cun)在(zai)的(de)(de)缺(que)陷(xian)或組(zu)織狀態變(bian)(bian)化會(hui)(hui)(hui)使導磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)率發生變(bian)(bian)化，即磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)阻增大，使得(de)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)路中(zhong)的(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)通相應(ying)發生畸變(bian)(bian)，除了(le)一部分磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)通直(zhi)接(jie)穿(chuan)越缺(que)陷(xian)或在(zai)材(cai)料(liao)(liao)內部繞過(guo)缺(que)陷(xian)外，還有一部分磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)通會(hui)(hui)(hui)離開材(cai)料(liao)(liao)表(biao)(biao)面(mian)(mian)，通過(guo)空氣繞過(guo)缺(que)陷(xian)再重(zhong)新進(jin)入材(cai)料(liao)(liao)，從而(er)在(zai)材(cai)料(liao)(liao)表(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)缺(que)陷(xian)處(chu)形成漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)場(chang)。當采用(yong)(yong)(yong)微細的(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)性(xing)介質(zhi)（磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉）鋪撒(sa)在(zai)材(cai)料(liao)(liao)表(biao)(biao)面(mian)(mian)時，這些(xie)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉會(hui)(hui)(hui)被漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)場(chang)吸附聚(ju)集(ji)從而(er)顯示出缺(que)陷(xian)所在(zai)，這種方法就是“磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉探(tan)(tan)傷”技(ji)術(shu)。如(ru)果不是使用(yong)(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉，而(er)是直(zhi)接(jie)使用(yong)(yong)(yong)特殊的(de)(de)測(ce)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)裝置（例如(ru)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)帶、檢(jian)測(ce)線(xian)圈、磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)敏元件等）探(tan)(tan)查(cha)并記錄漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)通的(de)(de)存(cun)(cun)在(zai)來達(da)到檢(jian)測(ce)目的(de)(de)，則稱為(wei)“漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)檢(jian)測(ce)”技(ji)術(shu)。目前主要應(ying)用(yong)(yong)(yong)于工(gong)業上(shang)檢(jian)查(cha)鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)性(xing)材(cai)料(liao)(liao)及(ji)零部件上(shang)的(de)(de)表(biao)(biao)面(mian)(mian)和近表(biao)(biao)面(mian)(mian)缺(que)陷(xian)。

3.   滲(shen)透檢測技術

通過噴灑、刷涂或(huo)浸漬等方(fang)法，把滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)能力很強(qiang)的滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)液(ye)(ye)施(shi)加到(dao)被檢查的物(wu)(wu)(wu)體(ti)上，當物(wu)(wu)(wu)體(ti)表面存在(zai)(zai)開口(kou)性(xing)缺(que)陷(xian)(xian)時(shi)，滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)液(ye)(ye)因毛細管作(zuo)用原理而(er)深入到(dao)缺(que)陷(xian)(xian)中去(qu)，將物(wu)(wu)(wu)體(ti)表面多余的滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)液(ye)(ye)擦拭或(huo)沖(chong)洗干凈(jing)后(hou)，再在(zai)(zai)物(wu)(wu)(wu)體(ti)表面均(jun)勻施(shi)加顯(xian)像(xiang)劑，顯(xian)像(xiang)劑能將已(yi)滲(shen)(shen)(shen)入缺(que)陷(xian)(xian)內(nei)的滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)液(ye)(ye)引導到(dao)物(wu)(wu)(wu)體(ti)表面上來，由于顯(xian)像(xiang)劑本身提供了與滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)液(ye)(ye)形(xing)成強(qiang)烈(lie)對(dui)比的背(bei)景(jing)襯托，因此反滲(shen)(shen)(shen)出的滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)液(ye)(ye)將顯(xian)示(shi)出缺(que)陷(xian)(xian)的狀(zhuang)況圖像(xiang)，它(ta)可(ke)以是以顏色(se)對(dui)比而(er)在(zai)(zai)白(bai)光(guang)下用肉眼觀察（稱作(zuo)“著色滲(shen)透探傷”），也可以是因(yin)具有熒光作用而(er)在紫外光下觀察（稱作“熒光滲透探(tan)傷(shang)”）。主(zhu)要應(ying)用于檢查材料及工(gong)件表面開口(kou)性缺(que)陷(xian)，其靈敏度(du)已經(jing)達到可以(yi)檢查出(chu)開口(kou)寬度(du)僅有微(wei)米級的缺(que)陷(xian)。

4.   射線檢測技術

利用X射(she)線、γ射(she)線、β射線以及(ji)如(ru)中(zhong)子射線、GAO能射(she)線(xian)等(deng)放(fang)射(she)線(xian)穿透物質(zhi)(zhi)時，由于(yu)存在吸收(shou)與散射(she)、電子偶生成等(deng)特性與物質(zhi)(zhi)的密(mi)度結構(gou)相(xiang)關(guan)，或(huo)者產(chan)生電離等(deng)現象，從而能夠顯示(shi)物質(zhi)(zhi)內部的缺陷或(huo)組織結構(gou)。常(chang)見的有采用照(zhao)相(xiang)或(huo)屏幕顯示(shi)、電視顯示(shi)等(deng)方法將物質(zhi)(zhi)內部情況顯示(shi)為(wei)可見圖像以(yi)進行分析判斷。例如(ru)工業上用于(yu)檢(jian)查(cha)鑄(zhu)件、焊縫等(deng)的“射線照(zhao)相(xiang)檢測”或“工業X光(guang)電視”、醫學界用于檢查人體(ti)的“X光(guang)透視或照相”及“CT”等(deng)。