無損(sun)檢(jian)測技(ji)術(shu)，又稱非(fei)破壞(huai)檢(jian)查技(ji)術(shu)，是第二次世界大戰后(hou)迅速發展起來的(de)(de)一(yi)門新(xin)興的(de)(de)工程(cheng)科學。它(ta)是利用物(wu)(wu)質中因有缺陷或(huo)(huo)組織結構上的(de)(de)差異(yi)存在而會使(shi)(shi)其某些物(wu)(wu)理性質的(de)(de)物(wu)(wu)理量(liang)發生變化(hua)(hua)的(de)(de)現(xian)象，以不(bu)使(shi)(shi)被檢(jian)查物(wu)(wu)使(shi)(shi)用性能及形態(tai)受到損(sun)傷為(wei)前提(ti)，通過一(yi)定的(de)(de)檢(jian)測手段來檢(jian)測或(huo)(huo)測量(liang)、顯示和評估(gu)這(zhe)些變化(hua)(hua)，從而了解和評價材料、產品、設備構件直(zhi)至(zhi)生物(wu)(wu)等(deng)(deng)的(de)(de)性質、狀態(tai)或(huo)(huo)內(nei)部結構等(deng)(deng)等(deng)(deng)。它(ta)最突出(chu)的(de)(de)特點是“無損(sun)傷(shang)”，因此在工業生產、物理研(yan)究、生物工程以及(ji)醫(yi)療診斷等(deng)廣大領域獲得(de)極大的(de)重視和(he)迅速(su)發(fa)展。在工業領域，目前最(zui)常用的(de)有超聲(sheng)波檢(jian)測(ce)、磁粉檢(jian)測(ce)、滲透檢(jian)測(ce)、射線(xian)檢(jian)測(ce)。

1.   超聲波檢(jian)測技術

通過超聲波(bo)(bo)(bo)與試件相互(hu)作用，就(jiu)反射、透(tou)射和(he)散射的(de)波(bo)(bo)(bo)進行研究(jiu)，對(dui)試件進行宏觀缺陷監測、幾(ji)何特性(xing)測量、組織結構和(he)力學性(xing)能變(bian)化的(de)檢(jian)測和(he)表征，并進而對(dui)其特定應用性(xing)進行評價的(de)技(ji)術成(cheng)為超聲波(bo)(bo)(bo)檢(jian)測技(ji)術，其(qi)(qi)原(yuan)理為(wei)聲(sheng)(sheng)(sheng)源產生超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)，采用(yong)一(yi)定(ding)的方(fang)式使超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)進(jin)入試(shi)件(jian)，超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)在(zai)試(shi)件(jian)中傳(chuan)播(bo)并與試(shi)件(jian)材(cai)料以及其(qi)(qi)中的缺陷(xian)相互作用(yong)，使其(qi)(qi)傳(chuan)播(bo)方(fang)向(xiang)或特征被(bei)改(gai)變，改(gai)變后的超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)通過檢測設備被(bei)接(jie)收，并可對其(qi)(qi)進(jin)行處理和(he)分析，根據接(jie)收的超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)的特征，評估試(shi)件(jian)本身及其(qi)(qi)內部是否存(cun)在(zai)缺陷(xian)及缺陷(xian)的特性。

2.   磁粉檢測技術

鐵(tie)(tie)磁(ci)(ci)(ci)(ci)性(xing)材(cai)料(liao)(liao)(liao)在(zai)磁(ci)(ci)(ci)(ci)場(chang)中(zhong)被磁(ci)(ci)(ci)(ci)化時，材(cai)料(liao)(liao)(liao)表(biao)面(mian)或(huo)近表(biao)面(mian)存在(zai)的缺陷或(huo)組織狀(zhuang)態變化會(hui)使(shi)(shi)導磁(ci)(ci)(ci)(ci)率發生變化，即磁(ci)(ci)(ci)(ci)阻增大，使(shi)(shi)得磁(ci)(ci)(ci)(ci)路中(zhong)的磁(ci)(ci)(ci)(ci)通相應發生畸變，除了一(yi)部(bu)分(fen)磁(ci)(ci)(ci)(ci)通直(zhi)接穿(chuan)越缺陷或(huo)在(zai)材(cai)料(liao)(liao)(liao)內部(bu)繞過缺陷外，還有一(yi)部(bu)分(fen)磁(ci)(ci)(ci)(ci)通會(hui)離開(kai)材(cai)料(liao)(liao)(liao)表(biao)面(mian)，通過空氣繞過缺陷再重(zhong)新進入材(cai)料(liao)(liao)(liao)，從(cong)而在(zai)材(cai)料(liao)(liao)(liao)表(biao)面(mian)的缺陷處形成漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)場(chang)。當采用(yong)微細(xi)的磁(ci)(ci)(ci)(ci)性(xing)介質（磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)）鋪撒在(zai)材(cai)料(liao)(liao)(liao)表(biao)面(mian)時，這些磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)會(hui)被漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)場(chang)吸附聚(ju)集從(cong)而顯示(shi)出缺陷所在(zai)，這種方法就是(shi)“磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)探(tan)傷”技術(shu)。如果不是(shi)使(shi)(shi)用(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)，而是(shi)直(zhi)接使(shi)(shi)用(yong)特殊的測(ce)磁(ci)(ci)(ci)(ci)裝置(zhi)（例如磁(ci)(ci)(ci)(ci)帶、檢(jian)(jian)測(ce)線圈、磁(ci)(ci)(ci)(ci)敏元件等）探(tan)查并記錄漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)通的存在(zai)來達到(dao)檢(jian)(jian)測(ce)目的，則稱為(wei)“漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)檢(jian)(jian)測(ce)”技術(shu)。目前(qian)主要應用(yong)于(yu)工業(ye)上檢(jian)(jian)查鐵(tie)(tie)磁(ci)(ci)(ci)(ci)性(xing)材(cai)料(liao)(liao)(liao)及零部(bu)件上的表(biao)面(mian)和近表(biao)面(mian)缺陷。

3.   滲(shen)透(tou)檢測(ce)技(ji)術(shu)

通過噴灑、刷涂(tu)或(huo)浸(jin)漬等方法，把滲透(tou)(tou)(tou)能力很強的(de)(de)(de)滲透(tou)(tou)(tou)液施加(jia)到被檢(jian)查(cha)的(de)(de)(de)物體(ti)(ti)上(shang)(shang)，當(dang)物體(ti)(ti)表(biao)面存(cun)在(zai)開口性缺(que)(que)陷(xian)時(shi)，滲透(tou)(tou)(tou)液因毛細(xi)管作(zuo)用(yong)原(yuan)理而深入(ru)到缺(que)(que)陷(xian)中去，將物體(ti)(ti)表(biao)面多余的(de)(de)(de)滲透(tou)(tou)(tou)液擦拭或(huo)沖洗干凈(jing)后，再(zai)在(zai)物體(ti)(ti)表(biao)面均勻施加(jia)顯(xian)像劑，顯(xian)像劑能將已滲入(ru)缺(que)(que)陷(xian)內的(de)(de)(de)滲透(tou)(tou)(tou)液引導到物體(ti)(ti)表(biao)面上(shang)(shang)來，由于顯(xian)像劑本身(shen)提供了與(yu)滲透(tou)(tou)(tou)液形成強烈對(dui)比(bi)的(de)(de)(de)背景襯(chen)托，因此反滲出的(de)(de)(de)滲透(tou)(tou)(tou)液將顯(xian)示出缺(que)(que)陷(xian)的(de)(de)(de)狀況圖像，它可以是以顏色對(dui)比(bi)而在(zai)白光(guang)下用(yong)肉(rou)眼觀(guan)察（稱(cheng)作(zuo)“著色滲透(tou)探傷(shang)”），也(ye)可(ke)以是因具有熒(ying)光(guang)作用而在紫外光(guang)下觀察（稱作“熒光(guang)滲透(tou)探傷”）。主要應(ying)用(yong)于檢查(cha)材料及工件表面開口(kou)性缺(que)陷(xian)，其靈敏度已經達到可以檢查(cha)出(chu)開口(kou)寬度僅有微(wei)米(mi)級的缺(que)陷(xian)。

4.   射線(xian)檢測(ce)技術(shu)

利(li)用X射線、γ射線、β射線(xian)以及(ji)如中子射線(xian)、GAO能射(she)線等(deng)(deng)(deng)放射(she)線穿透(tou)物(wu)質(zhi)(zhi)時，由(you)于存在(zai)吸收與(yu)散射(she)、電子偶(ou)生成等(deng)(deng)(deng)特性與(yu)物(wu)質(zhi)(zhi)的(de)(de)密度(du)結(jie)構相(xiang)關，或(huo)者產(chan)生電離(li)等(deng)(deng)(deng)現象，從而能夠(gou)顯(xian)(xian)示物(wu)質(zhi)(zhi)內部的(de)(de)缺(que)陷(xian)或(huo)組織結(jie)構。常見的(de)(de)有采用照相(xiang)或(huo)屏幕顯(xian)(xian)示、電視(shi)顯(xian)(xian)示等(deng)(deng)(deng)方(fang)法將物(wu)質(zhi)(zhi)內部情況顯(xian)(xian)示為可見圖像以(yi)進行分析判斷。例如(ru)工業上用于檢查鑄件、焊縫(feng)等(deng)(deng)(deng)的(de)(de)“射線照相(xiang)檢測”或“工業X光電視(shi)”、醫學界用于檢查人體(ti)的“X光透視或照相”及“CT”等。