無損檢(jian)測(ce)(ce)技術，又稱(cheng)非破壞檢(jian)查(cha)技術，是第二次世界大(da)戰后迅速發展起來(lai)的一門新興的工程科學。它是利用(yong)物質(zhi)中因(yin)有缺(que)陷或(huo)(huo)組(zu)織結(jie)構上的差異存在而會使其某些(xie)物理(li)(li)性質(zhi)的物理(li)(li)量發生(sheng)變(bian)化(hua)的現(xian)象，以不使被(bei)檢(jian)查(cha)物使用(yong)性能及形態(tai)受到(dao)損傷為前提，通過一定的檢(jian)測(ce)(ce)手(shou)段來(lai)檢(jian)測(ce)(ce)或(huo)(huo)測(ce)(ce)量、顯示和評估這些(xie)變(bian)化(hua)，從而了解和評價(jia)材料(liao)、產品(pin)、設備構件直(zhi)至生(sheng)物等的性質(zhi)、狀(zhuang)態(tai)或(huo)(huo)內部結(jie)構等等。它最(zui)突出的特(te)點是“無損傷”，因此在工業生(sheng)產、物(wu)理研究(jiu)、生(sheng)物(wu)工程以及醫療診斷等廣大(da)領域獲(huo)得極大(da)的重視和(he)迅速發展。在工業領域，目前最常用的有超聲(sheng)波(bo)檢(jian)測(ce)、磁粉檢(jian)測(ce)、滲透檢(jian)測(ce)、射(she)線檢(jian)測(ce)。

1.   超聲(sheng)波檢測技術

通過超聲波(bo)與(yu)試件相互作用，就反(fan)射(she)(she)、透射(she)(she)和(he)散(san)射(she)(she)的波(bo)進(jin)行(xing)研究，對試件進(jin)行(xing)宏(hong)觀缺(que)陷監(jian)測(ce)(ce)、幾何特性測(ce)(ce)量、組織結構(gou)和(he)力學性能變化的檢測(ce)(ce)和(he)表征，并(bing)進(jin)而(er)對其特定應用性進(jin)行(xing)評價的技(ji)術成(cheng)為超聲波(bo)檢測(ce)(ce)技(ji)術，其(qi)原(yuan)理(li)為聲(sheng)(sheng)源(yuan)產生超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)，采用一定的(de)方式使超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)進(jin)入試(shi)(shi)件(jian)，超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)在試(shi)(shi)件(jian)中傳(chuan)播并與試(shi)(shi)件(jian)材(cai)料以及其(qi)中的(de)缺(que)陷相互作(zuo)用，使其(qi)傳(chuan)播方向或(huo)特(te)征(zheng)被改變(bian)，改變(bian)后(hou)的(de)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)通(tong)過檢(jian)測(ce)設(she)備被接(jie)收，并可(ke)對其(qi)進(jin)行處(chu)理(li)和(he)分析，根(gen)據(ju)接(jie)收的(de)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)的(de)特(te)征(zheng)，評估試(shi)(shi)件(jian)本身及其(qi)內(nei)部是否存在缺(que)陷及缺(que)陷的(de)特(te)性。

2.   磁粉檢測技術

鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)性材(cai)(cai)料(liao)(liao)在(zai)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)場中被磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)化時，材(cai)(cai)料(liao)(liao)表(biao)(biao)面(mian)(mian)或(huo)近(jin)表(biao)(biao)面(mian)(mian)存在(zai)的缺(que)(que)陷或(huo)組織狀態變(bian)化會(hui)使(shi)(shi)(shi)導(dao)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)率發(fa)生(sheng)變(bian)化，即磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)阻增大，使(shi)(shi)(shi)得磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)路中的磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)通(tong)相(xiang)應發(fa)生(sheng)畸變(bian)，除了一(yi)部分(fen)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)通(tong)直(zhi)接(jie)穿(chuan)越缺(que)(que)陷或(huo)在(zai)材(cai)(cai)料(liao)(liao)內部繞過缺(que)(que)陷外，還有一(yi)部分(fen)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)通(tong)會(hui)離開材(cai)(cai)料(liao)(liao)表(biao)(biao)面(mian)(mian)，通(tong)過空氣(qi)繞過缺(que)(que)陷再重新進入材(cai)(cai)料(liao)(liao)，從而(er)在(zai)材(cai)(cai)料(liao)(liao)表(biao)(biao)面(mian)(mian)的缺(que)(que)陷處形成漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)場。當采用微細的磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)性介(jie)質（磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉）鋪撒(sa)在(zai)材(cai)(cai)料(liao)(liao)表(biao)(biao)面(mian)(mian)時，這(zhe)些磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉會(hui)被漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)場吸附聚集從而(er)顯示出缺(que)(que)陷所在(zai)，這(zhe)種方(fang)法就是“磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉探傷(shang)”技(ji)術。如果(guo)不是使(shi)(shi)(shi)用磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉，而(er)是直(zhi)接(jie)使(shi)(shi)(shi)用特殊的測磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)裝置（例如磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)帶(dai)、檢(jian)測線圈、磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)敏元(yuan)件等）探查并記錄漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)通(tong)的存在(zai)來達到檢(jian)測目(mu)的，則稱為“漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)檢(jian)測”技(ji)術。目(mu)前主要(yao)應用于工業上檢(jian)查鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)性材(cai)(cai)料(liao)(liao)及零部件上的表(biao)(biao)面(mian)(mian)和近(jin)表(biao)(biao)面(mian)(mian)缺(que)(que)陷。

3.   滲透檢測技術

通過噴(pen)灑、刷涂或(huo)浸漬等(deng)方(fang)法，把滲(shen)(shen)透(tou)能力(li)很強的(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)液(ye)施加(jia)到(dao)被檢查的(de)(de)(de)物體(ti)(ti)上，當物體(ti)(ti)表(biao)(biao)面存在(zai)開(kai)口(kou)性缺(que)陷(xian)時，滲(shen)(shen)透(tou)液(ye)因毛細管(guan)作(zuo)用(yong)原理而深入到(dao)缺(que)陷(xian)中去，將(jiang)物體(ti)(ti)表(biao)(biao)面多余(yu)的(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)液(ye)擦拭或(huo)沖洗干(gan)凈(jing)后，再在(zai)物體(ti)(ti)表(biao)(biao)面均勻(yun)施加(jia)顯像劑(ji)，顯像劑(ji)能將(jiang)已滲(shen)(shen)入缺(que)陷(xian)內的(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)液(ye)引(yin)導到(dao)物體(ti)(ti)表(biao)(biao)面上來，由(you)于顯像劑(ji)本身提供了與滲(shen)(shen)透(tou)液(ye)形成(cheng)強烈對比(bi)的(de)(de)(de)背景(jing)襯托，因此反(fan)滲(shen)(shen)出的(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)液(ye)將(jiang)顯示出缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)狀況圖(tu)像，它可以(yi)是以(yi)顏色對比(bi)而在(zai)白光下用(yong)肉(rou)眼觀(guan)察(cha)（稱作(zuo)“著色滲透(tou)探傷”），也可以是因具有熒光(guang)(guang)作(zuo)用而(er)在紫外光(guang)(guang)下觀察（稱(cheng)作(zuo)“熒光(guang)滲透探傷”）。主要應用于檢查材料(liao)及工件表面開口(kou)性缺陷(xian)，其靈敏度已(yi)經達到可以檢查出(chu)開口(kou)寬度僅有微米級(ji)的缺陷(xian)。

4.   射(she)線檢(jian)測技術

利用(yong)X射(she)線、γ射(she)線(xian)、β射線(xian)(xian)以及如中子射線(xian)(xian)、GAO能射(she)線等放(fang)射(she)線穿透(tou)物質(zhi)時(shi)，由(you)于存在吸收與散射(she)、電子偶(ou)生成(cheng)等特性(xing)與物質(zhi)的密(mi)度結構相關(guan)，或者產生電離等現象，從而能夠顯示(shi)物質(zhi)內(nei)部(bu)的缺(que)陷(xian)或組織結構。常見的有采用照(zhao)相或屏幕(mu)顯示(shi)、電視(shi)顯示(shi)等方法將物質(zhi)內(nei)部(bu)情況顯示(shi)為(wei)可見圖像以進行分析判(pan)斷。例(li)如(ru)工業上用于檢查鑄件、焊縫等的“射線(xian)照相檢測”或“工(gong)業X光電(dian)視(shi)”、醫學界用于檢(jian)查人體的“X光(guang)透視或照相”及“CT”等。