無損檢(jian)測技術(shu)，又稱(cheng)非破壞(huai)檢(jian)查技術(shu)，是(shi)第二次世界大戰(zhan)后迅速發展起來的(de)(de)(de)一門(men)新興(xing)的(de)(de)(de)工程科(ke)學(xue)。它(ta)是(shi)利用(yong)物質(zhi)(zhi)中因(yin)有缺陷或組織結構(gou)上的(de)(de)(de)差異存(cun)在(zai)而(er)會使(shi)其某些物理(li)性(xing)質(zhi)(zhi)的(de)(de)(de)物理(li)量發生(sheng)變化的(de)(de)(de)現(xian)象，以不使(shi)被檢(jian)查物使(shi)用(yong)性(xing)能及形態受(shou)到損傷(shang)為前(qian)提，通過一定的(de)(de)(de)檢(jian)測手段(duan)來檢(jian)測或測量、顯示和(he)評估這些變化，從而(er)了解和(he)評價材料、產品、設(she)備構(gou)件直至生(sheng)物等的(de)(de)(de)性(xing)質(zhi)(zhi)、狀態或內部結構(gou)等等。它(ta)最突出(chu)的(de)(de)(de)特點是(shi)“無損傷”，因此在工業生(sheng)產、物理(li)研究、生(sheng)物工程以及醫療診斷等(deng)廣大(da)領域獲(huo)得極大(da)的重視和迅速發展(zhan)。在工業領域，目前最常用的有(you)超聲波檢測、磁粉(fen)檢測、滲透(tou)檢測、射(she)線檢測。

1.   超聲波檢測技術

通過超聲(sheng)波與試件(jian)相互(hu)作用，就反射、透射和散射的(de)波進行研究，對試件(jian)進行宏觀缺陷監測(ce)、幾(ji)何特性(xing)測(ce)量、組(zu)織結構和力學性(xing)能變化的(de)檢測(ce)和表征(zheng)，并進而對其特定(ding)應用性(xing)進行評價的(de)技(ji)術(shu)成為超聲(sheng)波檢測(ce)技(ji)術(shu)，其(qi)原理(li)為聲(sheng)(sheng)(sheng)源產生超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)，采用一定的(de)(de)方(fang)式使超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)進入試件(jian)，超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)在試件(jian)中傳(chuan)播(bo)并與(yu)試件(jian)材料(liao)以(yi)及(ji)其(qi)中的(de)(de)缺(que)(que)陷(xian)相互作(zuo)用，使其(qi)傳(chuan)播(bo)方(fang)向或特征(zheng)被改變，改變后的(de)(de)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)通(tong)過檢(jian)測(ce)設備被接(jie)收，并可對其(qi)進行處理(li)和分析(xi)，根據接(jie)收的(de)(de)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)的(de)(de)特征(zheng)，評估試件(jian)本身(shen)及(ji)其(qi)內部(bu)是否存在缺(que)(que)陷(xian)及(ji)缺(que)(que)陷(xian)的(de)(de)特性。

2.   磁粉檢測技術

鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)性(xing)材(cai)(cai)(cai)(cai)料(liao)(liao)在(zai)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)場(chang)中被(bei)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)化(hua)(hua)時，材(cai)(cai)(cai)(cai)料(liao)(liao)表(biao)面或(huo)近表(biao)面存在(zai)的(de)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)或(huo)組織狀態變化(hua)(hua)會(hui)使導磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)率發(fa)生變化(hua)(hua)，即磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)阻增(zeng)大，使得磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)路中的(de)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)通相應(ying)發(fa)生畸(ji)變，除了(le)一(yi)部分磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)通直(zhi)接穿(chuan)越缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)或(huo)在(zai)材(cai)(cai)(cai)(cai)料(liao)(liao)內部繞過(guo)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)外，還有一(yi)部分磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)通會(hui)離開材(cai)(cai)(cai)(cai)料(liao)(liao)表(biao)面，通過(guo)空氣繞過(guo)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)再重新(xin)進入(ru)材(cai)(cai)(cai)(cai)料(liao)(liao)，從而(er)在(zai)材(cai)(cai)(cai)(cai)料(liao)(liao)表(biao)面的(de)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)處形成(cheng)漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)場(chang)。當采用(yong)微細的(de)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)性(xing)介質（磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)）鋪撒(sa)在(zai)材(cai)(cai)(cai)(cai)料(liao)(liao)表(biao)面時，這(zhe)些磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)會(hui)被(bei)漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)場(chang)吸附聚(ju)集從而(er)顯(xian)示出缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)所(suo)在(zai)，這(zhe)種(zhong)方法就是(shi)(shi)“磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)探傷”技(ji)術(shu)。如(ru)果(guo)不(bu)是(shi)(shi)使用(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)，而(er)是(shi)(shi)直(zhi)接使用(yong)特(te)殊的(de)測(ce)(ce)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)裝置（例如(ru)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)帶、檢(jian)測(ce)(ce)線圈、磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)敏元件等）探查并記錄(lu)漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)通的(de)存在(zai)來達到檢(jian)測(ce)(ce)目的(de)，則稱為“漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)檢(jian)測(ce)(ce)”技(ji)術(shu)。目前主要應(ying)用(yong)于(yu)工業上檢(jian)查鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)性(xing)材(cai)(cai)(cai)(cai)料(liao)(liao)及零部件上的(de)表(biao)面和近表(biao)面缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)。

3.   滲透(tou)檢測技術

通過噴灑(sa)、刷涂或浸漬等(deng)方法，把滲透能力很強的(de)(de)滲透液(ye)(ye)施(shi)加(jia)(jia)到被檢(jian)查的(de)(de)物(wu)體上(shang)，當物(wu)體表面(mian)存在開口性(xing)缺(que)陷時，滲透液(ye)(ye)因毛細管作用(yong)原理而深(shen)入到缺(que)陷中去(qu)，將(jiang)物(wu)體表面(mian)多(duo)余的(de)(de)滲透液(ye)(ye)擦(ca)拭(shi)或沖洗干凈后，再在物(wu)體表面(mian)均勻施(shi)加(jia)(jia)顯(xian)像劑，顯(xian)像劑能將(jiang)已滲入缺(que)陷內的(de)(de)滲透液(ye)(ye)引(yin)導到物(wu)體表面(mian)上(shang)來，由于(yu)顯(xian)像劑本身提供了與滲透液(ye)(ye)形成(cheng)強烈對比(bi)的(de)(de)背景襯托，因此反滲出的(de)(de)滲透液(ye)(ye)將(jiang)顯(xian)示出缺(que)陷的(de)(de)狀況(kuang)圖(tu)像，它可以是以顏色對比(bi)而在白光(guang)下用(yong)肉眼觀(guan)察（稱作“著色滲(shen)透探傷”），也(ye)可(ke)以是因具有(you)熒光作用而(er)在(zai)紫外光下觀察（稱(cheng)作“熒光滲透探傷”）。主要應(ying)用于檢(jian)(jian)查(cha)材料及工件表面開口性缺(que)陷(xian)，其靈敏(min)度已經(jing)達到可以檢(jian)(jian)查(cha)出開口寬(kuan)度僅(jin)有微(wei)米級的缺(que)陷(xian)。

4.   射線檢測技術(shu)

利(li)用X射線、γ射線、β射線以及(ji)如中子(zi)射線、GAO能射(she)(she)線等(deng)(deng)(deng)放(fang)射(she)(she)線穿(chuan)透(tou)物質時，由(you)于(yu)存(cun)在吸收與散射(she)(she)、電子偶生(sheng)成(cheng)等(deng)(deng)(deng)特(te)性(xing)與物質的密度(du)結(jie)構相關(guan)，或者產生(sheng)電離(li)等(deng)(deng)(deng)現象，從而(er)能夠顯(xian)示(shi)(shi)物質內部的缺陷或組織結(jie)構。常見的有(you)采(cai)用(yong)照相或屏幕顯(xian)示(shi)(shi)、電視(shi)顯(xian)示(shi)(shi)等(deng)(deng)(deng)方法將物質內部情況(kuang)顯(xian)示(shi)(shi)為可見圖像以進行分(fen)析判(pan)斷。例如工業上用(yong)于(yu)檢查鑄(zhu)件(jian)、焊縫等(deng)(deng)(deng)的“射線照相檢(jian)測(ce)”或(huo)“工業X光電視”、醫學界用(yong)于檢查人(ren)體的“X光透(tou)視或(huo)照相(xiang)”及“CT”等。